鑒定試驗(yàn)

概述

通過對主絕緣、匝間絕緣、包含接地的防暈結(jié)構(gòu)進(jìn)行試驗(yàn)，可以鑒定變頻器供電的旋轉(zhuǎn)電機(jī)絕緣結(jié)構(gòu)并給出IVIC分級。對整個絕緣結(jié)構(gòu)的這三個部分分別進(jìn)行評估。通過制造商特有的設(shè)計原則調(diào)各參數(shù)，例如，絕緣材料、可接受的應(yīng)力、防暈結(jié)構(gòu)、使用的技術(shù)、工藝路線和尺寸規(guī)范，以確定各組分該設(shè)計原則是要被鑒定的。

對于Ⅱ型絕緣結(jié)構(gòu)主絕緣的鑒定，成型繞組線圈或線棒需承受加速電老化以確定電壽命曲線。對于散嵌繞組電機(jī)，可以使用散嵌模型線圈或完整繞組。對于匝間絕緣，使用具有平行導(dǎo)體的線棒或線圈試品以獲得壽命曲線。局部放電主要引起電老化并導(dǎo)致過早失效是鑒定試驗(yàn)的前提，因此所有的試驗(yàn)應(yīng)在PDIV之上進(jìn)行。通常，允許使用正弦電壓進(jìn)行試驗(yàn)。對防暈結(jié)構(gòu)分別進(jìn)行沖擊電壓和正弦電壓試驗(yàn)。

鑒定試驗(yàn)

鑒定試驗(yàn)以GB/T17948.7-2016規(guī)定的絕緣結(jié)構(gòu)功能性評定通用規(guī)程為基礎(chǔ)，取決于預(yù)期應(yīng)用于變頻器供電條件下的絕緣結(jié)構(gòu)(待評結(jié)構(gòu))與具有滿意運(yùn)行經(jīng)驗(yàn)的絕緣結(jié)構(gòu)(基準(zhǔn)結(jié)構(gòu))的對比。

對于Ⅱ型絕緣結(jié)構(gòu)，主絕緣和匝間絕緣結(jié)構(gòu)的鑒定試驗(yàn)是按IEC60034-18-32的規(guī)定在室溫或升高溫度下的電壓耐久性試驗(yàn)進(jìn)行。為簡單起見,可使用正弦電壓對匝間和主絕緣進(jìn)行電壓耐久性試驗(yàn)這種簡化忽略了局部放電發(fā)生及沖擊上升時間影響老化速率的事實(shí)。當(dāng)可行時，推薦在合適的頻率下使用沖擊電壓波形進(jìn)行壽命試驗(yàn)。

通過使用不同的正弦過電壓或頻率,可以確定壽命曲線。注意本部分忽略了匝間絕緣和主絕緣之間老化的相互作用。在下述假設(shè)基礎(chǔ)上,沖擊條件下絕緣結(jié)構(gòu)壽命可以從其正弦電壓試驗(yàn)的壽命曲線預(yù)估出來：

a) 若峰-峰電壓值及電壓周期數(shù)相同,沖擊電壓和正弦電壓下的老化速率相同；

b)電壓耐久性系數(shù)n，在1kHz以下與頻率無關(guān)。

通常主絕緣壽命由基頻電壓峰-峰值及重復(fù)率決定。對于2電平變頻器,主絕緣主要承受沖擊電壓重復(fù)率下的峰-峰電壓(U’pk/pk)。峰-峰值和重復(fù)率這兩者之間對老化平衡的貢獻(xiàn)可使用標(biāo)準(zhǔn)中詳細(xì)描述的公式進(jìn)行計算。

通過老化試驗(yàn)對防暈結(jié)構(gòu)進(jìn)行鑒定,是將絕緣繞組的典型試樣放入模擬槽中,分別施加近似于運(yùn)行時預(yù)計的沖擊電壓和正弦電壓,確定是否出現(xiàn)明顯的損壞,比如明顯的掉色或燃燒根據(jù)變頻器供電下滿意的運(yùn)行經(jīng)驗(yàn),可以獲得IVIC等級,標(biāo)準(zhǔn)后續(xù)解釋了這種推導(dǎo)方法。