直流耐壓試驗(yàn)易于發(fā)現(xiàn)發(fā)電機(jī)端部缺陷，而不易檢出發(fā)電機(jī)槽部缺陷。50HZ交流耐壓試驗(yàn)雖然易于發(fā)現(xiàn)發(fā)電機(jī)主絕緣在槽部和槽口處的缺陷，但隨著發(fā)電機(jī)容量的增大，發(fā)電機(jī)對(duì)地電容量愈來愈大。

如一臺(tái)30萬(wàn)千瓦的發(fā)電機(jī)單相對(duì)地電容量為0.95微法左右。在進(jìn)行1.5Un的50HZ交流耐壓試驗(yàn)時(shí)，電容電流為7A，所需試驗(yàn)變?nèi)萘拷?00KVA。若是一臺(tái)30萬(wàn)KW的大型水輪發(fā)電機(jī)，單相對(duì)地電容為 1.85 微法，若取試驗(yàn)電壓為46KV進(jìn)行50HZ交流耐壓試驗(yàn)，電容電流為26.7A，所需試驗(yàn)變?nèi)萘繛?228KVA如此大的試驗(yàn)設(shè)備，體積、重量、容量都是現(xiàn)場(chǎng)難以想象的:因而，0.1HZ耐壓試驗(yàn)裝置的研究應(yīng)用解決了大型發(fā)電機(jī)的耐壓?jiǎn)栴}。

0.1HZ超低頻耐壓裝置的特點(diǎn)

1、可大幅度降低試驗(yàn)設(shè)備的容量和重量。發(fā)電機(jī)進(jìn)行50HZ交流耐壓試驗(yàn)時(shí)所需試驗(yàn)變的容量為：S=U2*ω*Cx

假定50HZ和0.1HZ時(shí)所施加的試驗(yàn)電壓相同，則試驗(yàn)變?nèi)萘恐葹椋?

S0.1/S50=(U2*2π*0.1*Cx)/(U2*2π*50*Cx)=1/500

可見：試驗(yàn)設(shè)備的容量、體積、重量大大減小。實(shí)際上，兩者試驗(yàn)設(shè)備的實(shí)際容量之比1:50~100。3~5KVA容量的0.1HZ試驗(yàn)設(shè)備能完成50HZ試驗(yàn)容量要求數(shù)百KVA的試驗(yàn)。

在復(fù)合絕緣內(nèi)部的電壓分布與50HZ時(shí)基本相同。

研究表明，在發(fā)電機(jī)復(fù)合絕緣內(nèi)部介質(zhì)上的電壓分布，0.1HZ電壓的分布按電容分布，與50HZ電壓的分布相同。說明兩者檢出缺陷，考驗(yàn)絕緣狀況的有效性相同。

易于檢出發(fā)電機(jī)端部的絕緣缺陷，具有直流耐壓試驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)。

試驗(yàn)表明，0.1HZ電壓檢出槽部和口繞組絕緣缺陷的效果優(yōu)于直流電壓而稍遜于50HZ交流電壓。

絕緣內(nèi)部的局部放電量明顯減小。

實(shí)踐表明，對(duì)部分老化的發(fā)電機(jī)，雖通過50HZ交流耐壓試驗(yàn)但由于積累效應(yīng)和強(qiáng)烈的局部放電在絕緣內(nèi)部造成的損傷加速了老化，反而降低了絕緣的原有絕緣水平，縮短了絕緣的壽命。

國(guó)內(nèi)某科研機(jī)構(gòu)實(shí)測(cè)了環(huán)氧粉云母絕緣在50HZ和0.1HZ電壓下的局部放電量，在單位時(shí)間(1分鐘)內(nèi)，0.1HZ時(shí)的局部放電量?jī)H為50HZ的13750。因此，采用0.1HZ超低頻耐壓試驗(yàn)可大大減輕局部放電對(duì)部分老化絕緣產(chǎn)生的破壞和老化積累作用，有利于延長(zhǎng)發(fā)電機(jī)的壽命。

從以上分析可知，0.1HZ超低頻耐壓試驗(yàn)既兼有50HZ交流耐壓和直流耐壓試驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)，又克服了它們的缺點(diǎn)，因此，新《規(guī)程》規(guī)定，有條件時(shí)，可采用0.1HZ超低頻耐壓。目前，有的電廠在發(fā)電機(jī)耐壓試驗(yàn)時(shí)只做0.1HZ和直流耐壓試驗(yàn)，不做50HZ交流耐壓試驗(yàn)；有的只做0.1HZ超低頻耐壓，不做直流和50HZ交流;有的先做0.1HZ，再做直流和50HZ交流耐壓。